Ключевые слова: tapes, multilayered structures, ac losses, anisotropy, numerical analysis
Yamasaki H., Nakagawa Y., Obara H., Nie J.C.(jcnie@bnu.edu.cn), Develos-Bagarinao K., Murugesan M., Mawatari Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films thick, substrate sapphire, buffer layers, crack formation, Jc/B curves, thickness dependence, fabrication, critical caracteristics
Furuse M., Fuchino S., Funaki K., Kajikawa K.(kajikawa@sc.kyushu-u.ac.jp), Hayashi T., Mawatari Y., Enpuku K., Iiyama Y.
Ключевые слова: cables three-phase, ac losses, HTS, modeling, numerical analysis, power equipment, new
Yamasaki H., Nakagawa Y., Obara H., Nie J.C.(jcnie@bnu.edu.cn), Develos-Bagarinao K., Murugesan M., Mawatari Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films thick, films epitaxial, substrate single crystal, buffer layers, PLD process, microstructure, Jc/B curves, critical caracteristics, fabrication
Yamasaki H., Nakagawa Y., Nie J.C., Murugesan M., Mawatari Y., Develos-Bagarinao K.(develos-bagarinao@aist.go.jp)
Yamasaki H., Nakagawa Y., Obara H., Nie J.C.(jcnie@bnu.edu.cn), Develos-Bagarinao K., Murugesan M., Mawatari Y.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.